การลักษณะ

Scanning กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และกระจายพลังงาน X-Ray สเปก (EDS) การวิเคราะห์

SEM และ eds analyses were made \\ ไม่ใช่  WDX600 Oxfordmicroscope (Leica Microsystems. Wetzlar Germany) coupledStereoscan 440 Leica อิเล็กตรอนสแกนmicroscope(Leica Microsystems).  samples were polished Sampling ความ 1 \\ วางเพชรnμmล้างด้วยน้ำและเอทานอลและอากาศแห้ง ที่แตกต่างกัน การ regions were analyzed using eds (ตารางที่ 2).

ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) วิเคราะห์-\\ วิเคราะห์ NXPs ได้ทำบนสเปกโตรมิเตอร์ (โมเดล XSAM HS; Kratos Analytical Ltd, แมนเชสเตอร์, สหราชอาณาจักร) ภายใต้สูญญากาศยูเอชที (ประมาณ

108Torr) องค์กรไม่แสวงหา-monochromatic Mg-K α(hν 1253.6=EV) radiations were ใช้งาน AS X ray-source กับ 5 MA emission current AT 12 kV voltage.  samples เป็น polished rinsed กับ DE ionized-water cleaned in \\ น่านล้ำ bath กับ analytical grade acetone สำหรับ 5 นาที และล้าง กับ DEionized -water. Previous  these experiments, การตัวอย่างถูกแช่อยู่ในน้ำลายเทียมและ 0.15 mol.L\\ 1nNaCl โซลูชั่นสำหรับ 8 ชั่วโมงที่ Ecorr-. หลังจาก 8 ชั่วโมงองค์ประกอบพื้นผิวที่ได้รับการวิเคราะห์เพื่อตรวจสอบสถานะ\\ นอฟcobalt (CO) และโครเมียม (Cr) ในองค์ประกอบของ\\ ฟิล์มnpassive ในฐานะที่เป็นผลผูกพันอ้างอิงพลังงานถูกใช้ค่า 284.8 EV สำหรับยอดคาร์บอนที่สอดคล้องกับไฮโดรคาร์บอนบังเอิญ (16) การประเมินผลรวมถึงขั้นตอนการเชอร์ลี่ย์สำหรับการลบพื้นหลังผสมฟังก์ชั่นแบบเกาส์Lorentzian และน้อยsquareroutineสำหรับกระชับ/-peak. \\ ทดสอบnCytotoxicity 

cytotoxicity

assay was carried out เมื่อ exposing  cell culture  solutions หลังจาก ติดต่อ กับ alloy samples แช่สำหรับ 10days ใน MEM อาหารเลี้ยงเชื้อที่อุณหภูมิ 37 องศาเซลเซียส . NCTCclone 929 cell Line was acquired จาก American type CultureCollection (ATCC) BANK.  cytotoxicity effect ถูกประเมินโดยการดูดซึมสีแดงที่เป็นกลาง (NRU) methodology, described ในเอกสารก่อนหน้า (17,18 ) ตามองค์การnInternational \\ เพื่อการมาตรฐาน (ISO) (19).Results \\ ผลnElectrochemical

potentials(นิ่งเปิด

  circuit  \\ ค่าnpotential) obtained สำหรับartificialsaliva 0.15  mol.L \\ 1n NaClsolutions were-  100 ± 28 mV SCE และ 277 ± 23-MV SCE respectively (รูป. 1A) ไล Potentiodynamic-polarizationcurves wereobtainedจาก corrosionpotentialและplotted in   order ในการประเมินผลกระทบของการที่มีศักยภาพในการกำหนดpotential range wher101;  alloy&# IS passivated และ  value ของ  transpassivation potential.  chronoamperometric tests ถูกสร้างขึ้นมาเพื่อตรวจสอบการแสดงตนหรือ ไม่กัดกร่อนบนฟิล์ม ที่ได้รับresults\\ โค้งn จากโพลาไรซ์จะมีพล็อตในรูปที่ 1A กับเส้นโค้ง chronoamperometric ที่ค่าที่มีศักยภาพที่แตกต่างกัน (มะเดื่อ. 1B และ1C) สำหรับ  alloy in artificial saliva และ NaCl กลางตามลำดับ ผลการ Chronoamperometric จะแสดงที่มีศักยภาพที่แตกต่างกันและยืนยันผู้ที่ได้รับโดย potentiodynamic polarization anodic curves indicating potential range wher 101;  metallic&#การ IS passivated ค่าคงที่ของความหนาแน่นกระแสสังเกตเห็นค่าที่มีศักยภาพที่แตกต่างกันมีข้อบ่งชี้ว่า alloydoes ไม่ได้อยู่บ่อ corrosion. Figure 1. Potentiodynamic polarizations เส้นโค้งของ CoCrW อัลลอย\\ น้ำลายnartificial และ 0.15 mol.L \\ โซเดียมคลอไรด์n1 ที่ 37 องศาเซลเซียส แผง , B และ C แสดงการตอบสนอง chronoamperograms ในแต่ละที่อาจเกิดขึ้นapplication

 - ถูกจ้างeis การตรวจสอบเรื่อย ๆ film

interface
และevolution กับ

increasingpotential/Figure 2 แสดงให้เห็นว่าเป็นลางบอกเหตุ (โมดูลัสและเฟส) แผนภาพสำหรับ CoCrW ในน้ำลายเทียม (รูป. 2A) และ 0.15 mol.L \\ 1nNaClsolutions(รูป.2B)-AT ecorr และ 0.25 VSCE .  similarbehavior อาจ BE seen สำหรับ  alloysolution interface in both/ media: imaginary และ real components \\ นอฟ impedance decrease เป็นศักยภาพที่จะกลายเป็นบวกมากขึ้นกว่า Ecorr\\ เพิ่มพจน์ proposed equivalent circuitIS presented in Figure 2C wher 101; rcorrespond ต้านทานอิเล็กโทรไล, CPE และ Rf correspond ตามลำดับคงองค์ประกอบเฟส(หลอก capacitance) และความต้านทานการโพลาไรซ์สำหรับ&#  oxidationreaction -trough protective film. CPE DC และR CTcorrespond ตามลำดับไปชั้นสอง \\ องค์ประกอบเฟสnconstant และความต้านทานต่อการถ่ายโอนค่าใช้จ่ายของ CoCrW alloyoxidation.  same circuit was proposed สำหรับ ecorr ที่ 0.25 VSCE in ทั้ง media. Figure 2. ความต้านทานสเปกตรัมของ CoCrW อัลลอยAT sodium คลอไรด์ (A) และน้ำลายเทียม แปลงเป็นลางบอกเหตุจดทะเบียนที่มีศักยภาพที่แตกต่างกัน (Ecorr และ 0.25 V): B (•

___) การจำลอง C: วงจรเทียบเท่าไฟฟ้าใช้เพื่อให้พอดีกับข้อมูลการทดลองที่มีศักยภาพที่แตกต่างกัน

 \\.nการลักษณะ

1\\ นาโนเมตร \\ วางเพชรn \\ นาโนเมตร รูปที่ 3 นำเสนอสาม

regions, 1, 2 และ 3 ตามการวิเคราะห์ EDS

1 องค์ประกอบกลุ่มภูมิภาค 2 สอดคล้อง

\\ นอฟ-silicon และแมงกานีส

oxides.XPs ถูกใช้ในการตรวจสอบ การปรากฏตัวของ Crและ CO ในองค์ประกอบของหนังแฝง ตารางที่ 3showsศักยภาพแน่นอนของส่วนประกอบในpassivefilm เนื้อหาโครเมียมของพื้นผิวสูงthancobalt ในสื่อทั้งสองและจะสูงกว่าใน 0.15 mol.L\\ 1n NaClเมื่อ

comparedsaliva.-resultsshowed presence \\ นอฟ chromium (III) และโคบอลต์ออกไซด์ในเรื่อย ๆ film. Table 3. Xray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS) ผลการค้นหาสำหรับ CoCrWalloy หลังจากแช่   Figure 3. SEM และ EDS ภาพตัวอย่างอัลลอย CoCrW ขัดthrough 1 มิลลิเมตรวางเพชร 

-